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HED W5300D破坏装置 井泽贸易 破坏装置

发布日期 :2023-04-22 10:10发布IP:123.58.44.124编号:11750105
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HED-W5100D全自动WaferESD测试仪

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施加ESD后,也可以通过V/I测量进行破坏判定。此外,HED-W5300D破坏装置,还可与ESD测试等TLP测试装置同时使用。

对于ESD测试中出现问题的设备,有效地获得保护电路的动作参数。

是与日本、海外的规格对应的可靠性高的装置。(JEITA/ESDA/JEDEC规格对应)











HED-W5000M-SP0LowCostWaferESD测试仪

HED-W5000M-SP0 Low Cost Wafer ESD测试仪

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以低成本提供。由于控制软件的开放,静电破坏装置,可以构筑广泛的应用程序。

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在集成电路中安装的保护电路的动作参数的收集和分析中,TLP测试装置发挥了很大的作用,但是在半导体的微细化进程中,为了提高ESD抗药性,需要进一步的保护电路的开发速度。

HED-W5000M-WFC测试仪可以观测实际加入设备的ESD波形,因此在保护电路参数的收集、分析、开发速度的缩短上发挥了很大的作用。


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